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システム開発技術|令和元年度 秋期 ITパスポート試験(特別措置試験) 問47

ソフトウェアの品質を判定する指標として,機能単位の不良件数をその開発規模で割った値を“不良密度”と定義する。不良密度の下限値と上限値を設定し,実績値がその範囲を逸脱した場合に問題ありと判定するとき,A工程では問題がなく,B工程で問題があると判定される機能はどれか。ここで,不良密度の下限値は0.25件/KS,上限値は0.65件/KSとする。また,不良密度の下限値,上限値及び開発規模は,両工程とも同じとする。

機能開発規模(KS)A工程の不良件数(件)B工程の不良件数(件)
機能11063
機能2201410
機能3501040
機能480328

解説

機能4はA工程0.40で範囲内、B工程0.10で下限割れです。

不良密度は、品質管理で使う指標の一つで、不良の件数を開発の規模で割った値です。下限の0.25を下回っても、上限の0.65を上回っても問題ありと判定します。下回るほうも問題とするのは、試験が足りず信頼性を確かめきれていない疑いがあるからです。四つを順に見ます。機能1はA工程が0.60、B工程が0.30で、どちらも範囲の中です。機能2はA工程が14を20で割って0.70となり、すでに上限を超えています。機能3はA工程が10を50で割って0.20で、こちらは下限を割っています。機能4はA工程が32を80で割って0.40と範囲の中ですが、B工程は8を80で割って0.10となり、下限を割ります。求めているのは、A工程で問題がなくB工程で問題がある機能です。よって最も適切なのは機能4です。

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出典:令和元年度 秋期 ITパスポート試験(特別措置試験) 問47(改変:原典の図表をテキストに書き起こした)

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