エンベデッドシステムスペシャリストのそのほかの用語（14語）

エンベデッドシステムスペシャリストの過去問から選び出した用語のうち、分類の頁がまだ無い分類の語 14語を、短い言葉で説明しています。

• ICE

  ボード上のMPUの位置に、その働きをまねる装置をつないで使うデバッグ用の装置です。試験では、ROMを置き換える方式などとの見分けが問われます。

• JTAG

  ICの端子を通して内部を検査するための仕組みです。試験ではマイコンに組み込まれたデバッグ用の機能を外部の端子から制御する点が問われます。

• MLC

  一つのメモリセルに2ビット以上のデータを記憶するフラッシュメモリです。試験では、電荷の量を段階に分けて読み分ける点が問われます。

• P操作

  セマフォ変数を1減らし、値が足りなければそのタスクを待ち状態にする操作です。試験では、増やして資源を返すV操作との組で問われます。

• インサーキットエミュレータ

  ターゲットボード上のMPUの位置に、MPUの働きをまねる装置をつないで使うデバッグ用の装置です。試験では、MPUの代わりにボードへ接続する点が問われます。

• スタックフレーム

  関数が呼ばれるたびにスタックに積まれ、戻ると取り除かれる、関数ごとの領域です。確保したサイズに収まるかの検証に呼出し関係が要る点が問われます。

• スヌープキャッシュ

  各コアのキャッシュが共有バスのアクセスを監視し、他のコアの書込みで自分の写しを無効化や更新する方式です。試験では一貫性の保ち方が問われます。

• スリーステートバッファ

  制御入力が有効なら入力をそのまま出力し、無効なら出力を切り離す素子です。試験では、回路の中で出力が切り離されたときの値を読む問題が問われます。

• デューティ比

  一定の周期のパルスでオンの時間が占める割合です。PWM制御で、これを変えてモータの回転数を調整する点が問われます。

• ハプティックデバイス

  人に力や振動、動きなどを与えて、触った感じや手ごたえを伝えるデバイスです。試験では、触覚へフィードバックを返す装置として問われます。

• 位相比較器

  PLLの中で二つの入力の位相差を検出する回路です。入力信号と帰還してきた信号を受け、位相の差を電圧にして出す位置づけが問われます。

• 優先度逆転

  優先度の高いタスクが、優先度の低いタスクのせいで待たされ続ける現象です。試験では、低優先度タスクが資源を持つと起こり得る点が問われます。

• 割込み禁止

  その間に発生した割込みを受け付けない状態です。長いと高い優先度の割込みでも待たされるので、処理を短く絞る設計が問われます。

• 電圧制御発振器

  PLLの中で、入ってきた電圧に応じた周波数の出力信号を作る回路です。ブロック図で低域通過フィルタの次に入ることが問われます。